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一种激光测高仪综合测试系统及其综合测试方法

摘要

本发明公开了一种激光测高仪综合测试系统及其综合测试方法,属于激光技术领域。本发明实现了测绘相机中激光测高分系统性能测试所需的不同地物特征模拟及太阳光谱模拟,应用于激光测高分系统指标参数的标定,包括整机的延时时间常数、测距精度、测距范围、测距分辨率、探测灵敏度、最大测程等。激光测高仪综合测试系统集成度高,控制便捷,在达到上述功能的基础上提高了激光测高仪综合测试系统的可靠性与稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN108828537B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.11.18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201810298653.0

  • 申请日2018.04.04

  • 分类号G01S7/40;

  • 代理机构南京理工大学专利中心;

  • 代理人朱沉雁

  • 地址 210094 江苏省南京市玄武区孝陵卫200号

  • 入库时间 2022-12-29 02:00:48

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