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半导体器件以及使用该器件的晶体振荡器

摘要

提供了一种小巧的半导体器件,该半导体器件形成了能够获得良好的电容变化的用于高频的电容元件。还提供了一种MOS电容器型半导体器件,该器件包括:通过栅极绝缘膜形成在衬底表面上的栅电极,设置成其间具有所述栅电极的源极/漏极区,以及包括用于接触衬底的接触扩散区的背栅。调整施加在源极或漏极区与栅电极之间的区域上或者施加在栅电极与背栅之间的区域上的电压,使得能够调整累积在栅极绝缘膜处的电荷。在该器件中,确定源极区与漏极区之间的距离或者背栅与栅电极之间的距离,使得在所施加的电压的一个周期内,电子或空穴能够累积在栅极绝缘膜与衬底之间的界面处。

著录项

  • 公开/公告号CN100533735C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-08-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN200510113713.X

  • 发明设计人 立山雄一;

    申请日2005-10-14

  • 分类号H01L27/04(20060101);H01L29/78(20060101);H01L29/40(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波;侯宇

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-23

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L27/04 登记生效日:20200603 变更前: 变更后: 申请日:20051014

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-08-26

    授权

    授权

  • 2009-08-26

    授权

    授权

  • 2007-08-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-08-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-04-19

    公开

    公开

  • 2006-04-19

    公开

    公开

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