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低极化效应的氮化镓基发光二极管芯片用外延材料及制法

摘要

一种低极化效应GaN发光二极管外延用材料及制法:在蓝宝石或SiC衬底上用半导体器件沉积技术依次生长由GaN缓冲层和n型GaN层组成的n型InGaAlN层、由InAlGaN多量子阱结构极化调控层和InAlGaN多量子结构发光层组成的低极化效应有源层和p型InGaAlN层;该方法保留单色光发光二极管器件制做工艺,仅对氮化镓基发光材料的生长过程改进,增加InAlGaN多量子阱结构极化调控层,使量子阱有源区的能带弯曲产生反方向弯曲,降低量子阱有源区极化效应,不增加器件复杂性,又增加GaN基发光二极管内量子效率,克服常规GaN基发光二极管的强极化效应导致低内量子效率缺点,发光二极管整体性能得以提高。

著录项

  • 公开/公告号CN100547819C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-10-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN200610089289.4

  • 申请日2006-08-15

  • 分类号H01L33/00(20060101);

  • 代理机构11280 北京泛华伟业知识产权代理有限公司;

  • 代理人高存秀

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-10-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 33/00 授权公告日:20091007 终止日期:20150815 申请日:20060815

    专利权的终止

  • 2009-10-07

    授权

    授权

  • 2008-05-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-02-20

    公开

    公开

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