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基于宽光束小步长扫描方式的X射线发光断层成像方法

摘要

本发明涉及一种基于宽光束小步长扫描方式的X射线发光断层成像方法,包括下列步骤:①数字X射线成像系统和XLCT成像参数设置。③将注入纳米荧光颗粒的待测物体放到成像腔。④X射线束的设置,实现宽光束小步长的扫描激发方式。⑤对待测物体进行扫描,而后通过光纤探测器接收近红外光子,用光电倍增管记录光子数量。⑥正向模型构建。⑦逆向模型构建。

著录项

  • 公开/公告号CN109589126B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.08.19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201811214285.3

  • 发明设计人 周仲兴;张月明;冯博;高峰;

    申请日2018.10.18

  • 分类号A61B6/03(2006.01);

  • 代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201;

  • 代理人程毓英

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-09-26 23:16:11

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