X射线发光断层成像中笔束与锥束激发性能的对比

摘要

研究了X射线发光断层成像(XLCT)的激发性能,对笔束XLCT和锥束XLCT等两种主要的成像系统在不同激发方式下的扫描时间、重建精度、分辨率及重建时间等性能指标进行了对比研究.设计的对比实验中,笔束XLCT系统的扫描时间为436 s,锥束XLCT系统的扫描时间仅为10 s.目标实验中,笔束XLCT系统的重建时间为82.57 s,重建误差为0.47 mm;锥束XLCT系统的重建时间为172.63 s,重建误差为1.59 mm.在边距分别为1 mm和0.5 mm的两组双目标实验中,笔束XLCT系统均能准确分辨,重建误差均在0.8 mm以内,而锥束XLCT系统对边距为1 mm的双目标重建误差均达到了1.7 mm左右;当目标边距缩小到0.5 mm时,其已无法进行全域分辨.实验结果表明:相比于锥束XLCT,笔束XLCT利用自身的“激发先验”优势具有较短的重建时间、较高的定位能力和分辨率,但是其系统扫描时间要明显大于锥束XLCT.本文的工作为选择合适的XLCT成像系统提供了参考.