公开/公告号CN111906590B
专利类型发明专利
公开/公告日2022.08.12
原文格式PDF
申请/专利权人 北京航天万鸿高科技有限公司;北京航天控制仪器研究所;
申请/专利号CN202010544554.3
申请日2020.06.15
分类号B23Q17/00(2006.01);G01B21/20(2006.01);
代理机构中国航天科技专利中心 11009;
代理人高志瑞
地址 066000 河北省秦皇岛市经济技术开发区龙海道数谷翔园42号楼4201
入库时间 2022-09-26 23:16:07
机译: 用于测量二维或三维胶片形貌的测量设备,用于生产胶片卷的设备,用于在线识别二维或三维胶片形貌中的缺陷图像的方法。控制薄膜网的生产过程以防止缺陷的方法,控制薄膜网的生产过程以防止缺陷的方法,在线平直度确定的方法,生产薄膜网的设备和在线第一误差的确定方法特定平面度误差
机译: 旋转轴中心的平行度误差和测量圆度的直线度轴中心的误差的测量方法
机译: 用于补偿轮胎测量误差的方法和装置,该误差和测量能够使用三维扫描仪进行精确的轮胎形状测量