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多层调制掺杂的ZnO-MgZnO透明导电氧化物薄膜

摘要

具有多层调制掺杂的透明导电氧化物薄膜,属于一种半导体器件的结构设计。在ZnO缓冲层B1后增加周期性重复的调制掺杂层(包括MgxZn1-xO:Al掺杂层D、MgxZn1-xO阻挡层B、ZnO:Oy调制层M)。其缓冲层B1厚度10~20nm,掺杂层D和调制层M厚度均为2~6nm,阻挡层B厚度1~3nm;Al掺杂浓度小于5%,Mg含量10~33%。该多层调制掺杂结构不损失半导体器件的光学透过率,能解决透明导电薄膜中杂质离子散射问题,增加载流子霍耳迁移率,极大地改善器件的电学性质。有利于光电转换器件(如太阳电池)向大面积、高效率发展,也有利于透明电子器件(如液晶显示器)向高性能发展。

著录项

  • 公开/公告号CN100499176C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西南交通大学;

    申请/专利号CN200610022664.3

  • 发明设计人 黄代绘;李卫;

    申请日2006-12-27

  • 分类号H01L31/0224(20060101);G02F1/1343(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610031 四川省成都市二环路北一段111号西南交通大学

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-02-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 31/0224 授权公告日:20090610 终止日期:20111227 申请日:20061227

    专利权的终止

  • 2009-06-10

    授权

    授权

  • 2008-08-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-07-02

    公开

    公开

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