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MRAM技术中用于MTJ中的合成反铁磁结构及MTJ的形成方法

摘要

一种用于磁阻随机存取存储器(MRAM)的磁隧道结(MTJ)(10),具有自由层(14),该自由层是合成反铁磁(SAF)结构。该SAF(14)包括由耦合层(28)分隔的两个铁磁层(26,30)。耦合层(28)具有非磁性的基材料和改善热耐久性、SAF(14)的耦合强度控制和磁阻比(MR)的其它材料。优选的基材料是钌,优选的其它材料是钽。为了增强这些优点,在钽和铁磁层之一之间的界面处增加钴-铁。另外,耦合层(28)甚至可具有更多的层(38、40),并且使用的材料可以变化。另外,耦合层(28)本身可为合金。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-04

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 29/76 变更前: 变更后: 申请日:20041104

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2009-06-24

    专利申请权、专利权的转移(专利权的转移) 变更前: 变更后: 登记生效日:20090515 申请日:20041104

    专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)

  • 2009-06-03

    授权

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  • 2007-03-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-01-10

    公开

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