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构建激光再晶化Si-Ge互扩抑制模型及制备Ge/Si虚衬底的方法

摘要

本发明涉及一种构建激光再晶化Si‑Ge互扩抑制模型及制备Ge/Si虚衬底的方法,本发明的模型构建方法针对激光再晶化Si衬底上Ge外延层的过程中Si‑Ge存在相互扩散问题,建立热方程、Si‑Ge相互扩散系数以及述Si‑Ge相互扩散方程,通过模型推导与仿真,建立了激光再晶化Si‑Ge互扩抑制模型,根据所述Si‑Ge互扩抑制模型可以优化激光再晶化工艺参数,使得激光再晶化制备Ge/Si虚衬底过程中,抑制Si‑Ge相互扩散现象,为激光再晶化技术制备高质量的Si衬底上Ge外延层提供重要技术参考。

著录项

  • 公开/公告号CN110534407B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海先积集成电路有限公司;

    申请/专利号CN201910648698.0

  • 发明设计人 张超;

    申请日2019-07-18

  • 分类号H01L21/02(20060101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人闫家伟

  • 地址 201306 上海市浦东新区环湖西二路888号C楼

  • 入库时间 2022-08-23 13:20:09

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