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基于单层膜或多层膜纳米磁电子器件的无掩模制备方法

摘要

一种基于单层膜或多层膜纳米磁电子器件的无掩模制备方法,属于磁电子器件制造技术领域。其特征在于包括以下步骤:(1)按衬底、缓冲层、磁性层、保护层的顺序沉积制作磁性器件基体,其中在沉积磁性层时施加50~500Oe的平面诱导磁场;(2)利用聚焦镓离子工作站作为加工设备,进行无掩膜离子辐照加工;(3)其中离子辐照参数为:离子辐照的剂量为1×1013~1×1018ions/cm2,离子束能量为20~30keV,离子束流为100pA~5nA;(4)利用聚焦离子束工作站在磁性薄膜器件的周围沉积出所需的电极。本方法具有无需制备掩模、方法简单、效率高的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN100487938C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京航空航天大学;

    申请/专利号CN200710133293.0

  • 发明设计人 王寅岗;李子全;周广宏;

    申请日2007-09-27

  • 分类号H01L43/12(20060101);H01L41/22(20060101);

  • 代理机构南京苏高专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人阙如生

  • 地址 211100 江苏省南京市江宁区将军路29号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 43/12 授权公告日:20090513 终止日期:20150927 申请日:20070927

    专利权的终止

  • 2009-05-13

    授权

    授权

  • 2008-05-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-03-12

    公开

    公开

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