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SOI晶体管四端口网络射频模型参数提取方法

摘要

本发明提供一种SOI晶体管四端口网络射频模型参数提取方法,包括以下步骤:1)依据YGG提取栅电阻Rg及栅电容Cgg;2)依据YGS提取栅源电容Cgs,并依据YGD提取栅漏电容Cgd;3)依据YGS、Rg、Cgs及Cgd提取源电阻Rs,并依据YGD、Rg、Cgs及Cgd提取漏电阻Rd;4)依据YBS提取源体二极管结电容Csb,并依据YBD提取漏体二极管结电容Cdb;5)依据YBB提取体电阻Rb;6)依据漏区埋氧层与衬底的Y参数提取衬底电阻;7)依据漏区埋氧层与衬底的Y参数及ZBB提取衬底电容;8)依据ZCdbox提取漏区埋氧层电容;9)依据源区埋氧层与衬底的Y参数及YSS提取源区埋氧层电容。本发明通可以利用Y参数或Z参数直接对所述SOI晶体管四端口网络射频模型参数进行提取。

著录项

  • 公开/公告号CN108875105B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710338860.X

  • 发明设计人 陈静;吕凯;罗杰馨;王曦;

    申请日2017-05-15

  • 分类号G06F30/39(20200101);

  • 代理机构31451 上海泰博知识产权代理有限公司;

  • 代理人钱文斌

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 13:09:32

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