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用于化学价态研究的X射线吸收谱探测器及其方法

摘要

本发明涉及X射线应用技术领域,用于化学价态研究的X射线吸收谱探测器及其方法。探测器由样品支架,样品S1,样品S2,X射线光电二极管,滤波片,狭缝,大面积X射线光电二极管组成。其中样品支架,与样品S1、X射线光电二极管组成透射探测器部分;样品支架又与样品S2,滤波片,狭缝,大面积X射线光电二极管组成荧光探测器部分。它们共同利用同一个透射式电离室作为前电离室。两探测器部分组成一体,相互呈一定角度。方法是:两个探测器并列设置,分别用于待测样品及标准比较样品,每个探测器接收一部分同步辐射束线,当单色器进行光子能量扫描时,两探测器同时采谱,则两样品的谱在能量标定上完全一致。

著录项

  • 公开/公告号CN100473981C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院高能物理研究所;

    申请/专利号CN200410077865.4

  • 发明设计人 谢亚宁;张静;胡天斗;刘涛;

    申请日2004-09-16

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100039 北京市石景山区玉泉路19号乙

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-11-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/083 授权公告日:20090401 终止日期:20100916 申请日:20040916

    专利权的终止

  • 2009-04-01

    授权

    授权

  • 2006-05-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-03-22

    公开

    公开

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