首页> 中国专利> 表征摄影测量系统三维坐标重构误差的矩阵谱半径方法

表征摄影测量系统三维坐标重构误差的矩阵谱半径方法

摘要

本发明属于摄影测量领域。本发明提供了一种表征摄影测量系统三维坐标重构误差的矩阵谱半径方法,包括以下步骤:步骤1,定义双目摄影测量系统中的多个坐标系,并得出利用靶标的像素坐标重构三维空间坐标的坐标重构关系式;步骤2,计算在重构过程中靶标的像素坐标误差向三维空间坐标误差传递的度量矩阵,并通过度量矩阵的谱半径表征摄影测量系统三维坐标重构误差。本发明的方法通过计算得到度量矩阵谱半径并将其作为关键量化指标,关注坐标重构过程的误差传递关系,而不依赖摄影测量系统像素坐标测量提取误差的估计,更符合系统布局和构型的参数设计要求。

著录项

  • 公开/公告号CN112762825B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 复旦大学;

    申请/专利号CN202011555498.X

  • 申请日2020-12-24

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构31204 上海德昭知识产权代理有限公司;

  • 代理人郁旦蓉

  • 地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号

  • 入库时间 2022-08-23 13:08:40

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号