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一种半导体存储器老化测试系统软件升级方法

摘要

本发明属于软件升级技术领域,公开了一种半导体存储器老化测试系统软件升级方法,将上位机作为客户端,将半导体存储器老化测试系统的测试核心板作为服务端,上位机采用UDP协议向半导体存储器老化测试系统内所有测试核心板发送UDP广播包以发现局域网内所有测试核心板的IP地址,采用TCP协议传输升级的命令和应答消息;在测试核心板设置FTP服务,采用FTP协议将需要升级的程序文件传送到测试核心板,校验通过后由测试核心板根据文件类型更新到指存储区域或文件系统中;本发明提供的这种软件升级方法,可以对多个测试核心板同时通过网络进行升级,使用了半导体老化测试系统工作时的网络架构,不仅不会增加升级成本,而且减少升级操作,使升级的可靠性、方便性大大的提高。

著录项

  • 公开/公告号CN109660386B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉精鸿电子技术有限公司;

    申请/专利号CN201811436611.5

  • 发明设计人 黄磊;刘海;

    申请日2018-11-28

  • 分类号H04L41/082(20220101);H04L67/06(20220101);H04L69/164(20220101);H04L9/06(20060101);

  • 代理机构42224 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人赵伟

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区书城路48#(北港工业园)1栋11层

  • 入库时间 2022-08-23 13:08:15

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