首页> 中国专利> 一种具有强制p型表面态的InAs/GaSb二类超晶格光探测器

一种具有强制p型表面态的InAs/GaSb二类超晶格光探测器

摘要

本发明公开了一种具有强制p型表面态的InAs/GaSb二类超晶格光探测器,所述InAs/GaSb二类超晶格光探测器的吸收区为p型,所述吸收区的能带结构依次包括有超晶格导带、超晶格价带、体导带、体价带,在吸收区的能带结构中,吸收区的表面态位于超晶格价带顶的上方但与超晶格价带顶的间隙小于3kBT,或者表面态位于超晶格价带顶的下方,其中kB是玻尔兹曼常数,T是InAs/GaSb二类超晶格光探测器的工作温度。本发明的InAs/GaSb二类超晶格光探测器表面态位于与超晶格价带顶的上方但与超晶格价带顶的间隙小于3kBT,或者表面态位于与超晶格价带顶的下方,使得表面态转变为p型,与吸收区同型,从而消除表面SRH暗电流,提高探测器的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN109768100B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江焜腾红外科技有限公司;

    申请/专利号CN201910039088.0

  • 发明设计人 詹健龙;宋禹析;

    申请日2019-01-16

  • 分类号H01L31/0304(20060101);H01L31/0352(20060101);H01L31/109(20060101);

  • 代理机构33253 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人丁鹏

  • 地址 314000 浙江省嘉兴市经济技术开发区昌盛南路36号嘉兴智慧产业创新园10号楼104室

  • 入库时间 2022-08-23 13:07:15

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