一种基于红外探测器质子位移效应的低温辐照试验测试方法

摘要

本发明涉及一种基于红外探测器质子位移效应的低温辐照试验测试方法，该方法涉及装置是由计算机、低噪声直流电源、数据采集及时序控制电路、camlink数据线、GPIB转USB连接线、专用测试杜瓦瓶、温控仪、CDBA‑25Z排线、导线1和导线2组成，将装置放置在辐照室内，然后根据测试暗场或者光场的需求，选择是否在测试杜瓦瓶中安装冷屏，再利用分子泵对封装有红外探测器的测试杜瓦瓶进行排气，并灌装液氮进行制冷，检查各项功能正常后开始辐照测试，结束辐照试验后，利用已有参数，结合采集的图像计算出暗电流、输出信号、暗电流噪声、响应率、探测率和缺陷像元。本发明所述方法实现了红外探测器的低温在线辐照测试，可靠性高、装置连接简单、操作方便、方法简单易行。