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一种压电陶瓷微位移的测量方法、系统、装置及计算机可读存储介质

摘要

本发明涉及一种压电陶瓷微位移的测量方法、系统、装置及计算机可读存储介质,属于微位移测量领域,测量方法包括第一光谱图生成步骤,控制激光器发射预设波长为λ的激光,得到激光通过准直透镜后形成的第一光信号,进而得到第一光谱图;第二光谱图生成步骤,控制激光器发射预设波长为λ的激光,控制压电陶瓷发生位移,得到通过准直透镜后形成的第二光信号,进而得到第二光谱图;激光频率变化量获取步骤,对第一光谱图和第二光谱图进行对比,得到激光频率变化量;位移变化量获取步骤,将激光频率变化量代入方程组,通过求解计算得到压电陶瓷的位移变化量。本发明具有便于对压电陶瓷的位移变化量进行测量的效果。

著录项

  • 公开/公告号CN113432541B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 一念传感科技(深圳)有限公司;

    申请/专利号CN202110663598.2

  • 申请日2021-06-15

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构11508 北京维正专利代理有限公司;

  • 代理人吴珊

  • 地址 518101 广东省深圳市宝安区航城街道三围社区泰华梧桐工业园春桃(2B)栋7层

  • 入库时间 2022-08-23 13:05:33

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