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用于原位检验的独立负载框架

摘要

本发明涉及一种用于原位检验的独立负载框架。用于在测试或者测量过程中向测试样品施加张力负载的负载框架包括:第一夹持器,此第一夹持器用于夹持测试样品的第一端;第二夹持器,此第二夹持器用于夹持测试样品的第二端;以及张力装置,此张力装置用于向测试样品施加张力负载。负载框架还包括围绕第一夹持器的第一端管、围绕第二夹持器的第二端管以及在测试或者测量过程中围绕测试样品的中部的中央管。诸如波产生系统之类的系统可以用于在测试或者测量过程中穿过中央管测量测试样品。

著录项

  • 公开/公告号CN107866762B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 波音公司;

    申请/专利号CN201710695765.5

  • 申请日2017-08-15

  • 分类号B25B11/00(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人王小东

  • 地址 美国伊利诺伊州

  • 入库时间 2022-08-23 13:00:35

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