公开/公告号CN108230286B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-11
原文格式PDF
申请/专利权人 北京机电工程研究所;
申请/专利号CN201611170077.9
申请日2016-12-16
分类号G06K9/00(20060101);G06K9/62(20060101);G06T7/00(20170101);G06T17/20(20060101);
代理机构
代理人
地址 100074 北京市丰台区云岗北里40号院
入库时间 2022-08-23 13:00:34
机译: 质量影响因素分析方法,质量预测方法,质量控制方法,质量影响因素分析装置,质量预测装置,质量控制装置,质量影响因素分析系统,质量预测系统,质量控制系统和计算机程序
机译: 质量影响因素分析方法,质量预测方法,质量控制方法,质量影响因素分析设备,质量预测设备,质量控制设备,质量影响因素分析系统,质量预测系统,质量控制和质量控制方法
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