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相对于氧化硅区域有选择地蚀刻氮化硅区域的方法

摘要

本发明提供了一种相对于由氧化硅形成的第二区域有选择地蚀刻由氮化硅形成的第一区域的方法,能够抑制堆积物的生成并且能够获得高选择性。一个实施方式的方法包括:在由等离子体处理装置的腔室主体提供的腔室内准备具有第一区域和第二区域的被加工物的步骤;在腔室内生成包含含氢气体的第一气体的等离子体,以使得通过氢的活性种将第一区域的一部分改性而形成改性区域的步骤;和在腔室内生成包含含氟气体的第二气体的等离子体,以使得利用氟的活性种除去改性区域的步骤。

著录项

  • 公开/公告号CN108231579B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN201711326482.X

  • 发明设计人 田端雅弘;熊仓翔;

    申请日2017-12-13

  • 分类号H01L21/3065(20060101);

  • 代理机构11322 北京尚诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人龙淳

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 12:59:15

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