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一种避免镶嵌料影响样品测试数据的方法

摘要

一种避免镶嵌料影响样品测试数据的方法,属于样品制备领域。该方法可以有效避免镶嵌料对样品的影响,并且保证数据采集的方便性,从而确保实验结果的可靠性和实验结论的正确性。在样品的各种测试环境中,广泛存在一种情况,设计合理的框架,框架至少包括一个平面板,将待测样品一个外表面粘接固定到此平面板上,对垂直平面板的样品的一个侧面进行处理及表面观察或数据测试。保证数据采集的方便性,同时,对框架结构进行简化可以有效降低操作难度。

著录项

  • 公开/公告号CN108387417B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201810102940.X

  • 发明设计人 汉晶;郭福;

    申请日2018-02-01

  • 分类号G01N1/28(20060101);G01N1/32(20060101);G01N23/20008(20180101);G01N23/2202(20180101);

  • 代理机构11562 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李瑞雨

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 12:57:47

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