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CCD摄像系统的畸变测量校正方法和综合测试靶

摘要

一种CCD摄像系统的畸变测量校正方法和综合测试靶,所述综合测试靶由黑白间带和黑白带上的灰色目标点构成。所述的方法包括步骤:依次建立世界坐标系和摄像机坐标系之间、像素坐标系与图像坐标系之间、摄像机坐标系和图像坐标系之间的变换关系;采集畸变图像的成像极坐标;标定理想无畸变的成像极坐标;分别确定理想图像坐标点和畸变图像坐标点的对应关系,建立多项式模型;根据多项式系数测量并校正畸变。本发明的综合测试靶结合考虑了点靶和行靶信息,用测试靶替代传统的三个分立的靶板,解决了目标采样点的位置精度不高和目标采样点与其像点位置对应困难的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN100493207C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN200710064396.6

  • 申请日2007-03-14

  • 分类号H04N17/00(20060101);G06T7/00(20060101);

  • 代理机构北京市德权律师事务所;

  • 代理人王建国

  • 地址 100081 北京市中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-05-25

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04N 17/00 授权公告日:20090527 终止日期:20100314 申请日:20070314

    专利权的终止

  • 2009-05-27

    授权

    授权

  • 2007-10-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-08-29

    公开

    公开

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