芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法

摘要

本申请实施例公开了芯片测试与引脚复用单元、芯片测试与引脚复用方法。芯片测试与引脚复用单元，应用于芯片，芯片包括M个芯片功能单元、M个引脚和芯片测试与引脚复用单元，芯片功能单元和引脚一一对应；芯片测试与引脚复用单元包括芯片测试模块、引脚复用模块、M个第一开关模块和M个第二开关模块，M的取值为大于1的整数，N的取值为M的取值的2倍，从而通过复用芯片已有芯片功能单元所对应的引脚以实现芯片测试，而无需额外为芯片测试新增独立的引脚，从而有利于减少芯片在设计、封装和集成等环节上的引脚，进而有利于减小芯片的体积，以及降低芯片在设计、集成和封装上的成本。