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一种平面光学元件行星式研磨装置及研磨方法

摘要

本发明公开了一种平面光学元件行星式研磨装置及研磨方法,通过将工件盘的下端面与研磨台上端面平行设置,研磨台和工件盘能够相互不同轴转动,在工件盘上开设有多个夹具定位孔,多个夹具定位孔以工件盘驱动轴的轴线为中心圆周阵列,通过夹具夹持待加工光学元件,利用工件盘限位后使待加工光学元件的待研磨端面与研磨上端面接触,最后通过施压装置调整待加工光学元件与研磨台之间的压力,确保待加工光学元件与研磨台之间的接触稳定性,本装置结构简单,通过研磨盘和工件盘以行星式的运动方式相互转动,大大提高了平面光学元件的研磨速度,在研磨过程中通过施压装置实时保持同样的压力,保证了工件加工的平整度,提高了整个加工工艺的加工效率。

著录项

  • 公开/公告号CN111702653B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN202010415162.7

  • 申请日2020-05-15

  • 分类号B24B37/00(20120101);B24B37/11(20120101);B24B37/27(20120101);B24B37/34(20120101);B24B13/00(20060101);B24B13/005(20060101);B24B13/01(20060101);B24B49/12(20060101);B24B1/00(20060101);

  • 代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人李鹏威

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号

  • 入库时间 2022-08-23 12:49:23

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