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用于测量微米颗粒碰壁临界粘附速度和恢复系数的系统

摘要

本发明涉及微米颗粒流测量设备技术领域,尤其涉及一种用于测量微米颗粒碰壁临界粘附速度和恢复系数的系统,包括压缩空气气源、质量流量控制器、颗粒分散器、撞击基底以及光学测量装置,质量流量控制器与压缩空气气源相连,颗粒分散器的进口与质量流量控制器相连,颗粒分散器的出口与泄放出口相连,撞击基底设置于泄放出口的正下方。本发明所述的用于测量微米颗粒碰壁临界粘附速度和恢复系数的系统,能够将待测微米颗粒聚合物有效分散成单个待测微米颗粒,修正流体曳力对颗粒运动的影响,从而提高测量准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN111157407B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201911371220.4

  • 申请日2019-12-26

  • 分类号G01N15/00(20060101);G01N11/00(20060101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人谭云

  • 地址 100084 北京市海淀区双清路30号清华大学

  • 入库时间 2022-08-23 12:48:28

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