一种基于高斯模型卷积的亚像素边缘点检测方法

摘要

本发明公开了一种基于高斯模型卷积的亚像素边缘点检测方法，包括以下步骤：获取待检测区域的亚像素点；获取所述亚像素点的灰度值；沿垂直于搜索方向获取所述检测区域内每一行或每一列的所述亚像素点的灰度平均值；用高斯卷积核模型对所述灰度平均值进行卷积获取，得到边缘强度值；根据边缘类型和所述边缘强度值获取最佳边缘点；根据所述最佳边缘点拟合抛物线，所述抛物线的对称轴与所述旋转矩形的中心线的交点为最佳亚像素边缘点。本发明的目的在于提供一种基于高斯模型卷积的亚像素边缘点检测方法，通过设置卷积核宽度可以对任意强度的边缘图像进行边缘点检测，有效的提高了亚像素边缘点的检测精度和算法鲁棒性。