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一种用于大规模集成电路瞬态分析的仿真优化方法及装置

摘要

本发明公开了一种用于大规模集成电路瞬态分析的仿真优化方法及装置,通过对大规模集成电路划分为多个子电路,然后通过对每个子电路进行仿真,将仿真波形为周期波形的子电路生成一个对应的函数对应关系式,然后在对大规模集成电路进行仿真时,针对不是周期波形的子电路直接进行仿真,然后针对仿真波形为周期波形的子电路通过对应的函数对应关系式进行计算,以完成对应的模拟仿真,从而实现对整个大规模集成电路的仿真。其中,由于针对函数对应关系式得到的输出波形与直接进行仿真得到的仿真波形相同,无需对电路进行复杂的矩阵计算,进而提高了仿真的速度。

著录项

  • 公开/公告号CN113392610B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州贝克微电子有限公司;

    申请/专利号CN202110945784.5

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2021-08-18

  • 分类号G06F30/3308(20200101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人侯珊

  • 地址 215000 江苏省苏州市高新区科技城科灵路78号

  • 入库时间 2022-08-23 12:44:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-08

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G06F30/3308 专利号:ZL2021109457845 变更事项:专利权人 变更前:苏州贝克微电子有限公司 变更后:苏州贝克微电子股份有限公司 变更事项:地址 变更前:215000 江苏省苏州市高新区科技城科灵路78号 变更后:215000 江苏省苏州市高新区科技城济慈路150号1幢

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

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