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一种单光子源的制备方法及单光子源和集成光学器件

摘要

本发明公开了一种单光子源的制备方法及单光子源和集成光学器件,本发明通过在SiC晶圆面形成氧化硅保护层;在氧化硅保护层上制备掩膜;对SiC晶圆进行离子注入形成缺陷层;去除掩膜;将注入结构沿氧化硅保护层表面与另一带介质层的衬底键合;对键合结构退火;对剥离得到的表面SiC薄膜做后处理,再进行离子注入的方法步骤,将SiC薄膜经离子注入转移至衬底上,有利于避免注入损伤,有效克服了现有的SOI工艺制备的SiC薄膜因离子注入缺陷造成薄膜质量差、无法制备单光子源以及光损耗严重的问题,得到的单晶SiC薄膜和可控单光子源阵列具有高均匀性,高质量性,有利于制备高性能SiC基集成光学器件。

著录项

  • 公开/公告号CN111564534B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010264527.0

  • 申请日2020-04-07

  • 分类号H01L33/00(20100101);H01L33/06(20100101);H01L33/34(20100101);

  • 代理机构44202 广州三环专利商标代理有限公司;

  • 代理人郝传鑫;贾允

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 12:38:00

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