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公开/公告号CN111578844B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-19
原文格式PDF
申请/专利权人 上海工程技术大学;湖北航天化学技术研究所;
申请/专利号CN202010415412.7
发明设计人 刘斌;王虎;邢瑞英;孙晓飞;王业腾;王文博;占明明;刘轩;鲁国林;孙霖;
申请日2020-05-15
分类号G01B11/02(20060101);
代理机构11678 北京云嘉湃富知识产权代理有限公司;
代理人程凌军
地址 200336 上海市长宁区仙霞路350号
入库时间 2022-08-23 12:38:00
机译: 用于剪切成像,电子散斑干涉法或其他基于激光的测量系统的设备,在测量系统的光路中,在传感器路径上或在光束进入之前安装了过滤系统
机译: 用于移动设备的激光散斑干涉测量系统和方法
机译: 电子设备,包括易于拆卸的电路板,具有高抗振性
机译:提出了一种方法,用于通过电子散斑干涉法和相移散斑干涉法研究金属梁样品中纵向位移的定量估计值的可靠性。理论上的
机译:消除电子散斑干涉条纹中散斑噪声的定向双边滤波方法
机译:用于去除电子散斑图案干涉测量条纹散斑噪声的面向双侧过滤方法
机译:具有高抗振性纤维陀螺惯性测量系统的设计
机译:电子散斑图干涉仪(ESPI)在确定残余应力的钻孔方法中的应用。
机译:使用电子散斑干涉法获得沉浸样品精确亚微米位移测量值的补偿方法
机译:电子散斑图案干涉法中仅使用两个散斑图案的空间边缘分析方法测量精度的提高
机译:用于阻尼叶片研究的电子散斑干涉测量系统