公开/公告号CN110070513B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-10-01
原文格式PDF
申请/专利权人 上海同繁勘测工程科技有限公司;
申请/专利号CN201910364696.9
申请日2019-04-30
分类号G06T5/00(20060101);G06K9/62(20060101);
代理机构31283 上海弼兴律师事务所;
代理人薛琦;张冉
地址 200439 上海市宝山区高境镇殷高路1号1号楼中设广场302室
入库时间 2022-08-23 12:34:31
机译: 在x射线情况下的散射辐射校正的方法-计算机断层摄影,-用于产生杂散辐射校正的断层摄影表示的系统和方法,以及x射线-计算机断层摄影,-系统
机译: 用于在x射线计算机断层摄影系统中的散射辐射校正的方法,用于产生针对散射射线校正的断层摄影显示的方法和/或用于x射线计算机断层摄影系统
机译: 用于具有至少两个以角度偏移布置的聚焦/检测器系统的CT系统的散射辐射校正的方法和CT系统