公开/公告号CN111537070B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-24
原文格式PDF
申请/专利权人 华南师范大学;
申请/专利号CN202010222394.0
申请日2020-03-26
分类号G01J3/45(20060101);G01J3/02(20060101);G01J3/12(20060101);G01N21/45(20060101);
代理机构44326 广州容大知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人刘新年
地址 510000 广东省广州市天河区中山大道西55号
入库时间 2022-08-23 12:31:42
机译: 差动干涉测量成像系统能够快速改变剪切方向和尺寸
机译: 差分干扰成像系统能够快速改变剪切方向和量
机译: 干涉测量,例如在全息,剪切和散斑干涉测量中使用的测量,使用液晶聚合物通过改变其特性以改变可通过它们的光而提供快门效果