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擦刷洗净方法及擦刷洗净装置

摘要

本发明提供一种擦刷洗净方法及擦刷洗净装置,其抑制由辊的旋转所伴随的洗净液的逆流导致的积液的发生,抑制晶片正面的二次污染的发生。本发明为一种擦刷洗净方法,其借助多个辊(2)一边保持半导体基板(W)的外周缘(Wc)一边使其旋转,并且,使洗净部件(3)在半导体基板的洗净面(Wa)上滑动擦刷,由此使前述洗净面清洁化,其中,在使前述洗净部件(3)在半导体基板的洗净面的中心部(O1)滑动擦刷后,从前述中心部(O1),使前述洗净部件(3)在维持滑动擦刷的状态的同时,移动到外伸的距离(d),由此使前述半导体基板的洗净面清洁化,前述外伸的距离(d)是前述洗净部件的一部分从半导体基板的外周缘(Wc)突出的距离。

著录项

  • 公开/公告号CN108461415B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 环球晶圆日本股份有限公司;

    申请/专利号CN201710631541.8

  • 申请日2017-07-28

  • 分类号H01L21/67(20060101);B08B11/04(20060101);B08B1/02(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张雨;刘林华

  • 地址 日本新泻县

  • 入库时间 2022-08-23 12:31:14

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