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液晶模组色度值采集系统及方法

摘要

本发明公开了一种液晶模组色度值采集系统及方法,所述系统包括布置在显示器流水线工作区域的若干个自校式色度计和布置于显示器样本监控区域的光谱仪;自校式色度计用于根据PC传输的光谱辐射曲线和矫正参数进行色度值自校,自校完成后采集流水线工位上对应显示器的光谱数据并传输至PC;光谱仪用于采集显示器样本监控区域的显示器的光谱辐射曲线;PC用于计算每个自校式色度计的矫正参数,再接收自校完成后的自校式色度计采集的流水线工位上对应显示器的光谱数据。本发明以低成本方式提高色度计大规模阵列化应用,满足流水线对速度、精度、成本多方面要求,非常适合工厂化规模化生产使用。

著录项

  • 公开/公告号CN108333801B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉精测电子集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201810035754.9

  • 发明设计人 赵正;张付强;谷巍;

    申请日2018-01-15

  • 分类号G02F1/13(20060101);G09G3/36(20060101);

  • 代理机构42104 武汉开元知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄行军;刘琳

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:27:48

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