一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法

摘要

本发明提出一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法，本发明所涉及的测量方法，先根据荧光薄膜的激发光谱波段范围和发射光谱波段范围，选择合适波长的截止滤光片，通过在探测器前放置合适波长的截止滤光片，可以将从样品出来的光中的荧光发射部分滤除掉，从而获得荧光薄膜准确的透射率或反射率曲线；本发明操作简便，测量准确度高，适用面广，既适用于下转换荧光薄膜，也适用于上转换荧光薄膜，即适用于测量荧光薄膜的透射率，也适用于测量荧光薄膜的反射率。