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基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统

摘要

本发明公开了一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和装置,所述方法包括步骤:1)AOI系统对待测面板进行取像、检测,生成检测结果;2)对检测结果进行解析、分类;3)对检测结果进行不检区过滤;4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤;5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤,分析缺陷之间的位置关联性;6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总,生成最终缺陷检测报告,上传至客户存储系统。所述系统包括:包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器。不同的厂家客户通过使用本发明自动判等方法及系统,可以对AOI检测结果按照厂家客户制定的规则进行分析,输出符合不同厂家客户自己的需求结果。

著录项

  • 公开/公告号CN108827970B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉精测电子集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201810266497.X

  • 发明设计人 杨阳;欧昌东;

    申请日2018-03-28

  • 分类号G01N21/88(20060101);

  • 代理机构42104 武汉开元知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄行军;刘琳

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:25:32

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