具有薄层层析的拉曼检测芯片及分离检测分析物的方法

摘要

本发明公开一种具有薄层层析的拉曼检测芯片及分离检测分析物的方法。该具有薄层层析的拉曼检测芯片包含一硅基底，包含一第一部分、第二部分、及配置于该第一部分之上的多条纳米线，其中每一纳米线具有一顶端表面及一侧壁；以及，一金属层覆盖该纳米线的顶端表面及至少部分侧壁，其中该纳米线的总长度L为5μm至15μm。该金属层覆盖的该纳米线侧壁的长度L1与该纳米线的总长度L的比为0.2至0.8。