一种FLASH芯片的测试系统及测试方法

摘要

本发明公开了一种FLASH芯片的测试系统及测试方法，测试方法包括：子服务器通过交换机与所述主服务器建立连接；子服务器获取主服务器下发的配置参数，将配置参数转发至测试机台；测试机台根据配置参数执行对应的配置操作，并将执行结果反馈至子服务器；子服务器将测试机台反馈的执行结果转发至主服务器。本发明实施例通过一个PC端的服务器来管理多个生产设备，同时每个生产设备也可以根据需要自己配置参数，这样NAND flash产品的生产工厂可根据需要，选择集中或单独管理设备的生产，通过软件实现NANDflash的生产和检测，采用低功耗的处理器芯片+DRAM+EMMC实现，多个单位整合成一台设备，降低耗电和发热。