星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法

摘要

本发明提供了一种基于星上敏感器件总剂量损伤的幸存概率、故障影响传递概率和在轨辐射损伤时间T，建立元器件PIT模型，识别在轨卫星的元器件总剂量损伤薄弱点。本发明的星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，以敏感元器件辐照试验数据和在轨辐射损伤时间作为模型输入，通过对星上元器件的损伤故障时间归一化处理，识别卫星元器件抗总剂量损伤的薄弱点，评估总剂量损伤严重程度，可对卫星电子器件总剂量损伤的薄弱点进行抗加设计和改进，满足未来卫星在轨任务需求和提高可靠度。