电子元器件总剂量辐照在线测试系统及其应用

摘要

本文对一种由计算机自动控制并进行数据采集的电子元器件总剂量辐照现场测试系统进行了描述，并通过应用该系统对ＣＭＯＳ数字电路ＣＣ４０６９进行与总剂量辐射同步的电参数在线测量，以及辐照后退火数据的快速采集，研究了ＣＭＯＳ数字电路总剂量辐照在响应特性和辐照后快速时间退火效应。