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一种快照式穆勒矩阵椭偏仪器件的方位角误差校准方法

摘要

本发明属于精密光学仪器的系统参数校准相关技术领域,其公开了一种快照式穆勒矩阵椭偏仪器件的方位角误差校准方法,所述方法首先建立包含器件方位角误差的系统模型,然后对模型进行合理约减,通过标准样品获得足够的线性无关的方程组以求解器件方位角误差,并将求解结果拟合为不随波长变动的定值作为最终校准结果,此外,将校准结果代入至系统模型中可以进一步校准待测样品穆勒矩阵。本发明公开的方法能够准确地校准快照式穆勒矩阵椭偏仪各个器件的方位角误差,能够同时适用于透射式与反射式测量配置;同时,所述方法校准出方位角误差后,可以代入至包含方位角误差的系统模型,能够有效提升穆勒矩阵的测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN112179851B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202011044645.7

  • 发明设计人 陈修国;王鹏;张劲松;刘世元;

    申请日2020-09-29

  • 分类号G01N21/21(20060101);G06F17/12(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人孔娜;李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 12:14:10

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