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公开/公告号CN112179851B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-03
原文格式PDF
申请/专利权人 华中科技大学;
申请/专利号CN202011044645.7
发明设计人 陈修国;王鹏;张劲松;刘世元;
申请日2020-09-29
分类号G01N21/21(20060101);G06F17/12(20060101);
代理机构42201 华中科技大学专利中心;
代理人孔娜;李智
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
入库时间 2022-08-23 12:14:10
机译: 用于偏振调制的光学部件,包含这种光学部件的缪勒偏振计和椭偏仪,该椭偏仪的校准过程以及椭偏测量过程
机译: 光谱式椭偏仪,膜厚测量装置以及在光谱式椭偏仪中的聚焦方法
机译: 相同色度的无像差光学元件旋转型椭偏仪和测量标本穆勒矩阵的方法
机译:使用Mueller矩阵椭偏仪校准复合波片中的未对准误差
机译:偏振调制器,偏振计和Mueller矩阵椭偏仪的通用和自洽校准方法
机译:用太赫兹·穆勒矩阵椭偏仪研究金属雕塑薄膜中的屏蔽效应
机译:穆勒矩阵光谱椭偏仪在光掩模上确定线边缘粗糙度的应用
机译:一种高通量方法,可使用电子探针和光谱椭偏仪定量分析蛋白质在组合金属/金属氧化物表面上的吸附。
机译:通过光谱分辨Mueller矩阵椭偏仪测量角膜双折射及其对无创葡萄糖监测的意义
机译:穆勒矩阵光谱椭偏仪测定各向异性晶体的光学性质
机译:自动自补偿椭偏仪中元件缺陷和方位角误差的修正。