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一种半导体纳米材料热输运性质测试系统

摘要

本发明公开了一种半导体纳米材料热输运性质测试方法,包括:由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试,并得到测试数据;与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接;接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置;接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号;判断参考信号的接收功率是否大于门限值;如果判断参考信号的接收功率大于门限值,则向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息;由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息;由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收发送的测试数据。

著录项

  • 公开/公告号CN111555843B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖南科技学院;

    申请/专利号CN202010404230.X

  • 发明设计人 包本刚;孔永红;朱湘萍;

    申请日2020-05-13

  • 分类号H04L1/00(20060101);H04L5/00(20060101);H04W76/10(20180101);G08C17/02(20060101);G01N25/20(20060101);

  • 代理机构51229 成都正华专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李蕊

  • 地址 425100 湖南省永州市零陵区杨梓塘路130号

  • 入库时间 2022-08-23 12:11:46

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