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一种低通态压降IGBT及其控制方法、制造方法

摘要

本发明提供了一种低通态压降IGBT及其控制方法、制造方法,所述低通态压降IGBT包括栅极、发射极、控制电极和集电极;栅极、发射极和控制电极淀积在N型衬底的有源区;集电极淀积在N型衬底的P+集电区上;所述控制方法包括依据低通态压降IGBT的控制状态确定其工作模式。与现有技术相比,本发明提供的一种低通态压降IGBT及其控制方法、制造方法,通过控制电极的电压值有效抑制空穴流通,从而增加空穴在N‑区的存储量降低IGBT的通态损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN108022972B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201610943892.8

  • 申请日2016-11-02

  • 分类号H01L29/739(20060101);H01L29/06(20060101);H01L29/417(20060101);H01L21/331(20060101);H01L21/28(20060101);

  • 代理机构11271 北京安博达知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐国文

  • 地址 102209 北京市昌平区未来科技城北区国网智能电网研究院院内

  • 入库时间 2022-08-23 12:11:28

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