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一种改性半导体金属氧化物光催化材料的掺杂方法

摘要

本发明涉及光催化材料的改性技术,具体为一种“非入侵式”改性半导体金属氧化物光催化材料可见光性能的掺杂方法。在半导体金属氧化物纳米颗粒表面构筑一层含有异质掺杂原子的超薄层,将掺杂原子均匀束缚在超薄层中,使其不进入所包裹的内核光催化材料中。本发明提供的方法解决传统“入侵式”掺杂制备技术中,因在金属氧化物中引入掺杂异质原子,而增加光生载流子复合中心的弊端,从而在拓宽可见光光吸收范围的同时显著提高光催化活性,该发明普遍适用于改性各种半导体光催化材料。

著录项

  • 公开/公告号CN109999778B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院金属研究所;

    申请/专利号CN201810115598.7

  • 申请日2018-02-06

  • 分类号B01J23/02(20060101);B01J27/24(20060101);B01J37/02(20060101);B01J37/08(20060101);B82Y30/00(20110101);B82Y40/00(20110101);C02F1/30(20060101);C02F101/34(20060101);C02F101/38(20060101);

  • 代理机构21234 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张志伟

  • 地址 110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

  • 入库时间 2022-08-23 12:11:04

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