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存储器模块、具有其的计算系统及测试其标签错误的方法

摘要

公开了存储模块、具有该存储模块的计算系统以及测试计算系统的标签错误方法。该计算系统的方法包括:在处理器处将命令和地址输出到存储器模块;从存储器模块接收指示将对应于地址的标签与存储在存储器模块中的标签进行比较的结果的匹配/不匹配比特;在处理器处通过使用多数表决根据匹配/未匹配比特中确定高速缓存命中/未命中;以及在处理器处将所确定的高速缓存命中/未命中的信息输出到存储器模块。

著录项

  • 公开/公告号CN107423230B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN201710357927.4

  • 发明设计人 吴成一;金灿景;孙钟弼;

    申请日2017-05-19

  • 分类号G06F12/02(20060101);G06F12/0893(20160101);G06F11/10(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邵亚丽;张泓

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 12:08:05

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