首页> 中国专利> 一种相控阵天线增益噪声温度比值测量方法及系统

一种相控阵天线增益噪声温度比值测量方法及系统

摘要

一种相控阵天线增益噪声温度比值测量方法,包括如下步骤:步骤一、采用平面近场测量系统,测量待测相控阵天线在某频率的近场矢量数据;步骤二、利用信号源、频谱仪、探头,测量待测相控阵天线口面中心在步骤一中所述频率下的载噪比;标定探头发射的信号功率;步骤三、利用步骤二中所述的载噪比、信号功率、探头的增益,和,步骤一中所述的近场矢量数据,计算所述待测相控阵天线的增益噪声温度比值。本发明方法对场地尺寸需求较小,避免了误差积累,测量精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN110018361B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京空间飞行器总体设计部;

    申请/专利号CN201910234440.6

  • 发明设计人 李海良;刘杰;赵良波;王建军;

    申请日2019-03-26

  • 分类号G01R29/10(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人褚鹏蛟

  • 地址 100094 北京市海淀区友谊路104号

  • 入库时间 2022-08-23 12:06:16

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号