存储测试仪数据自毁方法

摘要

本发明涉及一种数据自毁的方法，具体为存储测试仪数据自毁方法。它主要由三个方面构成，第一，设定了数据定时自毁，到达定时时间后唤醒控制芯片，并与CPLD或者FPGA配合执行数据擦除操作；第二，设置了非正常读取自毁，当第一次接收到错误的读数指令时，如果没有在规定的定时时间内输入正确的指令，则执行唤醒控制芯片，并与CPLD或者FPGA配合执行数据擦除操作；第三，电池掉电自毁，在原有采集存储电路上增加了电池掉电检测电路，确认电池掉电后，利用电路板上的储能电容中存储的电量擦除存储芯片中存储的数据。本发明采用数据定时自毁、非正常读取自毁、装置断电后快速完成数据自毁的方法，来保证存储测试记录仪丢失时，或在电池因人为拆卸或意外断电时，测试仪仍可以完成数据自毁，不会造成数据的泄密。