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包括激活掺杂剂的制造方法和具有陡峭结的半导体装置

摘要

晶格空位在半导体层(700)的与工艺表面(701)直接邻接的预处理区(710)中生成。掺杂剂至少注入到所述预处理区(710)中。通过用激光束(850)照射所述工艺表面(701),来加热所述半导体层(700)的熔化区(712),激活至少在所述熔化区(712)中的注入的掺杂剂。

著录项

  • 公开/公告号CN107680905B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英飞凌科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201710652352.9

  • 申请日2017-08-02

  • 分类号H01L21/268(20060101);H01L21/22(20060101);H01L29/06(20060101);H01L29/861(20060101);H01L29/739(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人郭毅

  • 地址 德国瑙伊比贝尔格市

  • 入库时间 2022-08-23 12:01:58

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