一种检测深度可调的LRSPR传感器折射率变化测量方法

摘要

本发明公开一种检测深度可调的LRSPR传感器折射率变化测量方法，该LRSPR传感器安装在机械转台上，包括激光器、透镜、棱镜、LRSPR传感芯片、单元光电探测器和可调电压输出装置；LRSPR传感芯片依次包括制备于棱镜底面上的氧化物导电层、折射率调节介质层组合、金属功能层、检测功能层和样品池，样品池内为折射率为n1的参考样品1且未施加电场时，以0.01度为步长连续调节机械转台改变入射光角度，获得参考通道的LRSPR共振角度，本发明通过外场调节折射率调节介质层组合的折射率实现SPW检测深度的调节，可以实现检测功能层和检测样品折射率变化的同时检测。