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高可靠性高性能薄膜微波衰减片的制作方法

摘要

本发明公开了一种高可靠性高性能薄膜微波衰减片的制作方法,包括以下步骤:对陶瓷基板背面采用厚膜印刷工艺印刷高温银浆,在陶瓷基板的正面焊盘处采用厚膜印刷工艺印刷高温银浆,然后放入烧结炉进行烧结,在陶瓷基板正面涂布光刻胶、曝光、显影后分别溅射Ti/W金属层和Ni/Cr金属层,在去胶液中去除光刻胶,最后涂布光刻胶、曝光、显影后真空溅射电镀层,采用高温对TaN电阻层进行氧化,使其表面形成氧化层,对电阻进行微调,氧化层对电阻起到保护的作用。本发明减少了工艺步骤,极大提高了衰减电路的精度,保证产品的质量。

著录项

  • 公开/公告号CN112332064B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202011123982.5

  • 发明设计人 陈建良;

    申请日2020-10-20

  • 分类号H01P11/00(20060101);

  • 代理机构32312 苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人周雅卿

  • 地址 215000 江苏省苏州市高新区鹿山路369号26幢

  • 入库时间 2022-08-23 12:00:59

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