取最大值)对应的电极宽度值作为芯片电极有效宽度值(wE)。本专利申请为半导体芯片研究和生产的科研工作者在设计芯片电极布局时提供技术参考,为了获得芯片目标饱和电流值,如何设计制作欧姆接触电极和计算得到有效电极宽度,最后如何获得最合理的电极宽度设计值。"/>
机译: 超速判定装置,超速判定方法,超速判定程序,控制转速计算装置,控制转速计算方法以及转速计算程序的控制
机译: 用介电薄膜形成欧姆接触电极的方法以改善欧姆接触电极的形态和电阻
机译: 能够右转的道路判定装置及方法,用于判定被判定道路是否能够右转的计算机程序,以及用于记录该计算机程序的记录介质