取最大值)对应的电极宽度值作为芯片电极有效宽度值(wE)。本专利申请为半导体芯片研究和生产的科研工作者在设计芯片电极布局时提供技术参考,为了获得芯片目标饱和电流值,如何设计制作欧姆接触电极和计算得到有效电极宽度,最后如何获得最合理的电极宽度设计值。"/> 一种欧姆接触电极有效宽度的计算和判定方法(CN201711401180.4)-中国专利【掌桥科研】
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一种欧姆接触电极有效宽度的计算和判定方法

摘要

本发明公开了一种欧姆接触电极有效宽度的计算和判定方法。本发明通过设计电极线布局、测量以及计算的方式获得电极有效宽度数值,从而在有效节省电极布局空间的同时保证芯片电极间饱和电流大小不受影响。本发明引入衡量因子k(=RV/RC),选取k值曲线变化率最大位置(即取最大值)对应的电极宽度值作为芯片电极有效宽度值(wE)。本专利申请为半导体芯片研究和生产的科研工作者在设计芯片电极布局时提供技术参考,为了获得芯片目标饱和电流值,如何设计制作欧姆接触电极和计算得到有效电极宽度,最后如何获得最合理的电极宽度设计值。

著录项

  • 公开/公告号CN108197359B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201711401180.4

  • 申请日2017-12-22

  • 分类号G06F30/3953(20200101);G06F30/398(20200101);

  • 代理机构21208 大连星海专利事务所有限公司;

  • 代理人裴毓英

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 12:00:46

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